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李家瑋Chia-Wei Lee研究助技師Assistant Research Scientist
- 專長:Dual beam Electron microscope (FIB/SEM), Bio/Nano material conjugates fabrication
- 信箱:folly@as.edu.tw
- 電話:02-27871522
- 網站: 體積電顯與斷層影像核心設施
- 位置:B2A19/IRBST